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國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，河南平高電氣股份有限公司申請一項名為“一種負荷開關(guān)聯(lián)鎖裝置及包括其的柱上負荷開關(guān)”的專利，公開號CN121528788A，申請日期為2025年12月。專利摘要顯示，本發(fā)明涉及一種負荷開關(guān)聯(lián)鎖裝置及包括其的柱上負荷開關(guān)，屬于柱上負荷開關(guān)技術(shù)領(lǐng)域，包括：固定板、主軸A、主軸B、輪軸、地軸C、地軸D、主凸輪、主桿、地凸輪、地桿、主鎖板及地鎖板，先利用主凸輪的外輪面與主桿的頂端滑動接觸，由于地鎖板固定在主桿上，可以在轉(zhuǎn)動主軸B啟閉負荷開關(guān)的同時，聯(lián)動地鎖板向下移動，使地鎖板的地鎖孔鎖止地軸C，實現(xiàn)負荷開關(guān)分合閘時，接地開關(guān)無法操作；后利用地凸輪的外輪面與主鎖板底端接觸，由于地桿的頂端鉸接在地凸輪上且其底端通過拐臂固定在地軸D上，可以在轉(zhuǎn)動地軸D啟閉接地開關(guān)的同時，聯(lián)動主鎖板向

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，吉安伊戈爾電氣有限公司取得一項名為“一種高效多輸出開關(guān)電源”的專利，授權(quán)公告號CN223928238U，申請日期為2025年1月。專利摘要顯示，本實用新型涉及開關(guān)電源技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種高效多輸出開關(guān)電源，包括至少兩個模擬式恒流輸出模塊；高效原邊回路和變壓器T1的原邊繞組電連接，變壓器T1的副邊繞組和副邊濾波模塊電連接，副邊濾波模塊分別與模擬式恒流輸出模塊電連接；微控制器分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，使其接收微控制器的PWM信號和保護動作信號；變壓器T1的副邊輔助繞組分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，為模擬式恒流輸出模塊提供降壓偏壓電源；第一、第二檢測模塊分別電連接于模擬式恒流輸出模塊和微控制器之間以及副邊濾波模塊和微控制器之間，用于信號反饋；解決了設(shè)多個輸出的開關(guān)電

高壓檢測技術(shù)文章body { font-family: Arial, sans-serif; line-height: 1.6; margin: 20px; } h2 { color: #2c3e50; border-bottom: 1px solid #bdc3c7; padding-bottom: 5px; } ul { padding-left: 20px; } li { margin-bottom: 8px; } 高壓檢測技術(shù)及其應用 1. 檢測介紹 高壓檢測是電氣設(shè)備安全運行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，主要用于評估設(shè)備在高壓環(huán)境下的絕緣性能、耐壓強度及運行穩(wěn)定性。隨著電力系統(tǒng)向高電壓、大容量方向發(fā)展，高壓檢測技術(shù)的重要性日益凸顯。該技術(shù)廣泛應用于電力設(shè)備制造、安裝調(diào)試、定期維護及故障診斷等場景，是

負荷開關(guān)材料檢測技術(shù)文章 1. 檢測介紹 負荷開關(guān)材料檢測是電力設(shè)備質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)，主要針對負荷開關(guān)使用的各類材料進行性能評估和質(zhì)量驗證。負荷開關(guān)作為電力系統(tǒng)中重要的控制和保護設(shè)備，其材料性能直接影響設(shè)備的電氣性能、機械強度和使用壽命。通過的材料檢測可以確保負荷開關(guān)在各種工況下都能安全可靠運行，預防因材料缺陷導致的設(shè)備故障。這項檢測對于保障電網(wǎng)安全、提高供電可靠性具有重要意義。檢測內(nèi)容包括材料的物理性能、化學性能、電氣性能等多個方面，涉及金屬材料、絕緣材料、密封材料等多種材料類型。的檢測中心通過標準化的檢測流程和先進的檢測設(shè)備，為負荷開關(guān)制造商和使用單位提供權(quán)威的質(zhì)量評估報告。2. 檢測范圍包含的樣品 負荷開關(guān)材料檢測涵蓋以下主要樣品類型：3. 檢測項目 負荷開關(guān)材料檢測的主要項目包括但

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，濟南晶碩電子有限公司取得一項名為“一種芯片厚度檢測裝置”的專利，授權(quán)公告號CN223755989U，申請日期為2025年3月。專利摘要顯示，本申請涉及芯片厚度檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片厚度檢測裝置，包括承載座、芯片上下移動裝置、對射式光電開關(guān)以及控制裝置，承載座兩側(cè)上方固定設(shè)有側(cè)梁；芯片上下移動裝置用于承載芯片和控制芯片上下移動；對射式光電開關(guān)對稱設(shè)于芯片上下移動裝置兩側(cè)的側(cè)梁上；控制裝置與對射式光電開關(guān)和芯片上下移動裝置電連接，用于根據(jù)芯片上下移動裝置移動的距離計算出芯片厚度。本申請的芯片厚度檢測裝置不需要測厚儀，利用高精度直線電機配合高分辨率的對射式光電開關(guān)或者激光對射式傳感器完成芯片的厚度檢測。天眼查資料顯示，濟南晶碩電子有限公司，成立于2013年，位于

開關(guān)損耗檢測技術(shù)文章 開關(guān)損耗檢測技術(shù)詳解 1. 檢測介紹 開關(guān)損耗檢測是電力電子設(shè)備性能評估中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，主要用于量化開關(guān)器件（如MOSFET、IGBT等）在開關(guān)過程中產(chǎn)生的能量損失。開關(guān)損耗直接影響設(shè)備的效率、溫升和可靠性，因此精確檢測開關(guān)損耗對于優(yōu)化電路設(shè)計、提升能效和延長設(shè)備壽命具有重要意義。該檢測廣泛應用于新能源發(fā)電、電動汽車、工業(yè)變頻器等高科技領(lǐng)域。#沉浸式曬谷子#2. 檢測范圍包含的樣品 開關(guān)損耗檢測覆蓋多種電力電子器件和系統(tǒng)，主要包括以下樣品（不少于十五個）：3. 檢測的項目 開關(guān)損耗檢測涉及多個關(guān)鍵參數(shù)，確保全面評估器件性能。主要檢測項目包括（不少于十五個）：4. 檢測所需方法信息 為實現(xiàn)精確的開關(guān)損耗檢測，需采用多種標準化和先進方法，包括（不少于十五個）：5. 檢測所需儀

開關(guān)電源檢測技術(shù)body { font-family: Arial, sans-serif; line-height: 1.6; margin: 20px; } h2 { color: #2c3e50; border-bottom: 1px solid #bdc3c7; padding-bottom: 5px; } ul { padding-left: 20px; } li { margin-bottom: 8px; } 一、檢測介紹 開關(guān)電源作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的組成部分，廣泛應用于通信、計算機、工業(yè)控制、消費電子等領(lǐng)域。其性能優(yōu)劣直接關(guān)系到整機系統(tǒng)的穩(wěn)定性、安全性和使用壽命。開關(guān)電源檢測旨在通過科學、系統(tǒng)的測試方法，全面評估電源產(chǎn)品的電氣性能、安全性能、環(huán)境適應性及電磁兼容性等關(guān)鍵

證券之星消息，根據(jù)天眼查APP數(shù)據(jù)顯示晶豐明源（688368）新獲得一項發(fā)明專利授權(quán)，專利名為“過零檢測電路、芯片、智能開關(guān)及過零檢測方法”，專利申請?zhí)枮镃N201910101274.2，授權(quán)日為2026年1月23日。專利摘要：本申請?zhí)峁┮环N過零檢測電路、芯片、智能開關(guān)及過零檢測方法。其中，所述過零檢測電路用于檢測流經(jīng)一交流電線路上的交流電信號的過零相位，包括：檢測信號生成電路，用于間隔地產(chǎn)生反映交流電信號的檢測信號；其中所述檢測信號至少反映在預設(shè)的過零相位區(qū)間內(nèi)的交流電信號；檢測電路，與所述檢測信號生成電路相連，用于基于所述過零相位區(qū)間檢測所述檢測信號，并根據(jù)檢測結(jié)果輸出過零檢測信號。本申請利用間隔產(chǎn)生對應交流電信號的檢測信號，減少過零檢測電路中采樣電器件和檢測電器件的工作時長，由此減少過

我們都知道電工是必須要持證才能上崗的，但是電工證有低壓和高壓，很多初次考這個證的朋友就會問了：低壓電工證和高壓電工證有什么區(qū)別？其實沒什么區(qū)別，只是所適用的對象不同而已，低壓電工證所適用的對象就是低壓電工，高壓電工證所適用的對象自然就是高壓電工了。低壓電工和高壓電工區(qū)分方法如下：1、低壓電工：從事1千伏以下電器設(shè)備進行安裝、調(diào)試、運行操作、維護、檢修、改造施工和試驗作業(yè)。低壓電工證樣板2、高壓電工：從事1千伏及以上電器設(shè)備進行安裝、調(diào)試、運行操作、維護、檢修、改造施工和試驗作業(yè)。高壓電工證樣板看到這或許又會有有朋友問了：我考了高壓電工證，可以從事低壓電工作業(yè)嗎？答案是不可以的，高壓電工證雖然比低壓電工證要難考一些，但是他們的考試內(nèi)容是不一樣的，還有就是現(xiàn)實工作中高壓電工和低壓電工的工作內(nèi)容也

在半導體測試、功率器件研究及高壓電子元件開發(fā)等領(lǐng)域，高壓探針臺扮演著不可或缺的角色。與普通探針臺相比，高壓探針臺在結(jié)構(gòu)設(shè)計、安全性能和測試能力上具有顯著優(yōu)勢，能夠滿足高壓環(huán)境下的精密測試需求，下面鍵德測試測量小編就來詳細介紹下選擇高壓探針臺的原因。選擇高壓探針臺的原因如下：一、滿足高壓測試需求高壓探針臺專為高電壓環(huán)境下的測試而設(shè)計，能夠承受數(shù)百伏甚至數(shù)千伏的電壓，而普通探針臺通常僅適用于低壓測試。在功率半導體(如IGBT、MOSFET、SiC器件等)的研發(fā)與生產(chǎn)過程中，器件往往需要在高壓條件下進行性能評估，例如擊穿電壓測試、漏電流測試及耐壓特性分析。高壓探針臺通過其特殊設(shè)計的絕緣結(jié)構(gòu)和高壓接口，確保測試過程中的信號穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)準確性，是高壓器件測試的理想選擇。二、保障測試安全高壓測試環(huán)境對設(shè)