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國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，海光信息技術(shù)股份有限公司申請一項(xiàng)名為“一種用于開關(guān)電源的控制裝置、開關(guān)電源及控制方法”的專利，公開號CN121485467A，申請日期為2025年11月。專利摘要顯示，本發(fā)明實(shí)施例公開一種用于開關(guān)電源的控制裝置、開關(guān)電源及控制方法，涉及開關(guān)電源控制技術(shù)領(lǐng)域，能夠在保持信號穩(wěn)定的情況下，有效降低開關(guān)電源的功耗。該控制裝置包括：反饋模塊，配置為根據(jù)所述功率部件的電壓輸出端的所述第二電壓信號以及所述功率部件中所述電壓輸入端與所述電壓輸出端之間的目標(biāo)電流信號的交流分量，生成脈沖觸發(fā)信號；脈沖寬度調(diào)制模塊，與所述反饋模塊耦接，配置為根據(jù)所述脈沖觸發(fā)信號輸出脈沖信號，所述脈沖信號包括依次輸出的第一電平和第二電平，所述第一電平的持續(xù)時長為預(yù)設(shè)時長，所述脈沖信號用于控制所述功率部件中

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，陜西亞成微電子股份有限公司申請一項(xiàng)名為“應(yīng)用于智能低側(cè)開關(guān)芯片的可選擇升壓電路”的專利，公開號CN121508511A，申請日期為2025年10月。專利摘要顯示，本發(fā)明提供一種應(yīng)用于智能低側(cè)開關(guān)芯片的可選擇升壓電路，智能低側(cè)開關(guān)芯片包括引腳IN、功率管以及分別與引腳IN和功率管連接的電壓變化率控制模塊，可選擇升壓電路包括：可選擇電壓倍增模塊，其具有輸入端和輸出端，輸入端連接至智能低側(cè)開關(guān)芯片的引腳IN，輸出端連接至電壓變化率控制模塊；可選擇電壓倍增模塊，用于檢測引腳IN的輸入電壓值，并基于輸入電壓值進(jìn)行升壓控制，得到目標(biāo)電壓，并將目標(biāo)電壓輸出至功率管，以使功率管的內(nèi)阻小于預(yù)設(shè)閾值，從而顯著降低開關(guān)損耗，提高智能低側(cè)開關(guān)芯片的效率與可靠性。天眼查資料顯示，陜西亞成微電子

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，吉安伊戈?duì)栯姎庥邢薰救〉靡豁?xiàng)名為“一種高效多輸出開關(guān)電源”的專利，授權(quán)公告號CN223928238U，申請日期為2025年1月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型涉及開關(guān)電源技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種高效多輸出開關(guān)電源，包括至少兩個模擬式恒流輸出模塊；高效原邊回路和變壓器T1的原邊繞組電連接，變壓器T1的副邊繞組和副邊濾波模塊電連接，副邊濾波模塊分別與模擬式恒流輸出模塊電連接；微控制器分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，使其接收微控制器的PWM信號和保護(hù)動作信號；變壓器T1的副邊輔助繞組分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，為模擬式恒流輸出模塊提供降壓偏壓電源；第一、第二檢測模塊分別電連接于模擬式恒流輸出模塊和微控制器之間以及副邊濾波模塊和微控制器之間，用于信號反饋；解決了設(shè)多個輸出的開關(guān)電

高壓檢測技術(shù)文章body { font-family: Arial, sans-serif; line-height: 1.6; margin: 20px; } h2 { color: #2c3e50; border-bottom: 1px solid #bdc3c7; padding-bottom: 5px; } ul { padding-left: 20px; } li { margin-bottom: 8px; } 高壓檢測技術(shù)及其應(yīng)用 1. 檢測介紹 高壓檢測是電氣設(shè)備安全運(yùn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，主要用于評估設(shè)備在高壓環(huán)境下的絕緣性能、耐壓強(qiáng)度及運(yùn)行穩(wěn)定性。隨著電力系統(tǒng)向高電壓、大容量方向發(fā)展，高壓檢測技術(shù)的重要性日益凸顯。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于電力設(shè)備制造、安裝調(diào)試、定期維護(hù)及故障診斷等場景，是

負(fù)荷開關(guān)材料檢測技術(shù)文章 1. 檢測介紹 負(fù)荷開關(guān)材料檢測是電力設(shè)備質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)，主要針對負(fù)荷開關(guān)使用的各類材料進(jìn)行性能評估和質(zhì)量驗(yàn)證。負(fù)荷開關(guān)作為電力系統(tǒng)中重要的控制和保護(hù)設(shè)備，其材料性能直接影響設(shè)備的電氣性能、機(jī)械強(qiáng)度和使用壽命。通過的材料檢測可以確保負(fù)荷開關(guān)在各種工況下都能安全可靠運(yùn)行，預(yù)防因材料缺陷導(dǎo)致的設(shè)備故障。這項(xiàng)檢測對于保障電網(wǎng)安全、提高供電可靠性具有重要意義。檢測內(nèi)容包括材料的物理性能、化學(xué)性能、電氣性能等多個方面，涉及金屬材料、絕緣材料、密封材料等多種材料類型。的檢測中心通過標(biāo)準(zhǔn)化的檢測流程和先進(jìn)的檢測設(shè)備，為負(fù)荷開關(guān)制造商和使用單位提供權(quán)威的質(zhì)量評估報告。2. 檢測范圍包含的樣品 負(fù)荷開關(guān)材料檢測涵蓋以下主要樣品類型：3. 檢測項(xiàng)目 負(fù)荷開關(guān)材料檢測的主要項(xiàng)目包括但

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，濟(jì)南晶碩電子有限公司取得一項(xiàng)名為“一種芯片厚度檢測裝置”的專利，授權(quán)公告號CN223755989U，申請日期為2025年3月。專利摘要顯示，本申請涉及芯片厚度檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片厚度檢測裝置，包括承載座、芯片上下移動裝置、對射式光電開關(guān)以及控制裝置，承載座兩側(cè)上方固定設(shè)有側(cè)梁；芯片上下移動裝置用于承載芯片和控制芯片上下移動；對射式光電開關(guān)對稱設(shè)于芯片上下移動裝置兩側(cè)的側(cè)梁上；控制裝置與對射式光電開關(guān)和芯片上下移動裝置電連接，用于根據(jù)芯片上下移動裝置移動的距離計(jì)算出芯片厚度。本申請的芯片厚度檢測裝置不需要測厚儀，利用高精度直線電機(jī)配合高分辨率的對射式光電開關(guān)或者激光對射式傳感器完成芯片的厚度檢測。天眼查資料顯示，濟(jì)南晶碩電子有限公司，成立于2013年，位于

開關(guān)損耗檢測技術(shù)文章 開關(guān)損耗檢測技術(shù)詳解 1. 檢測介紹 開關(guān)損耗檢測是電力電子設(shè)備性能評估中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，主要用于量化開關(guān)器件（如MOSFET、IGBT等）在開關(guān)過程中產(chǎn)生的能量損失。開關(guān)損耗直接影響設(shè)備的效率、溫升和可靠性，因此精確檢測開關(guān)損耗對于優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、提升能效和延長設(shè)備壽命具有重要意義。該檢測廣泛應(yīng)用于新能源發(fā)電、電動汽車、工業(yè)變頻器等高科技領(lǐng)域。#沉浸式曬谷子#2. 檢測范圍包含的樣品 開關(guān)損耗檢測覆蓋多種電力電子器件和系統(tǒng)，主要包括以下樣品（不少于十五個）：3. 檢測的項(xiàng)目 開關(guān)損耗檢測涉及多個關(guān)鍵參數(shù)，確保全面評估器件性能。主要檢測項(xiàng)目包括（不少于十五個）：4. 檢測所需方法信息 為實(shí)現(xiàn)精確的開關(guān)損耗檢測，需采用多種標(biāo)準(zhǔn)化和先進(jìn)方法，包括（不少于十五個）：5. 檢測所需儀

開關(guān)電源檢測技術(shù)body { font-family: Arial, sans-serif; line-height: 1.6; margin: 20px; } h2 { color: #2c3e50; border-bottom: 1px solid #bdc3c7; padding-bottom: 5px; } ul { padding-left: 20px; } li { margin-bottom: 8px; } 一、檢測介紹 開關(guān)電源作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的組成部分，廣泛應(yīng)用于通信、計(jì)算機(jī)、工業(yè)控制、消費(fèi)電子等領(lǐng)域。其性能優(yōu)劣直接關(guān)系到整機(jī)系統(tǒng)的穩(wěn)定性、安全性和使用壽命。開關(guān)電源檢測旨在通過科學(xué)、系統(tǒng)的測試方法，全面評估電源產(chǎn)品的電氣性能、安全性能、環(huán)境適應(yīng)性及電磁兼容性等關(guān)鍵

證券之星消息，根據(jù)天眼查APP數(shù)據(jù)顯示晶豐明源（688368）新獲得一項(xiàng)發(fā)明專利授權(quán)，專利名為“過零檢測電路、芯片、智能開關(guān)及過零檢測方法”，專利申請?zhí)枮镃N201910101274.2，授權(quán)日為2026年1月23日。專利摘要：本申請?zhí)峁┮环N過零檢測電路、芯片、智能開關(guān)及過零檢測方法。其中，所述過零檢測電路用于檢測流經(jīng)一交流電線路上的交流電信號的過零相位，包括：檢測信號生成電路，用于間隔地產(chǎn)生反映交流電信號的檢測信號；其中所述檢測信號至少反映在預(yù)設(shè)的過零相位區(qū)間內(nèi)的交流電信號；檢測電路，與所述檢測信號生成電路相連，用于基于所述過零相位區(qū)間檢測所述檢測信號，并根據(jù)檢測結(jié)果輸出過零檢測信號。本申請利用間隔產(chǎn)生對應(yīng)交流電信號的檢測信號，減少過零檢測電路中采樣電器件和檢測電器件的工作時長，由此減少過