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國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，深圳市智安新能源科技有限公司申請一項名為“開關(guān)電源的拓撲控制方法、設備及存儲介質(zhì)”的專利，公開號CN121546929A，申請日期為2025年11月。專利摘要顯示，本申請?zhí)峁┝艘环N開關(guān)電源的拓撲控制方法、設備及存儲介質(zhì)，該方法包括：采集開關(guān)電源的運行數(shù)據(jù)；對運行數(shù)據(jù)進行卡爾曼濾波，獲得第一狀態(tài)數(shù)據(jù)和第二狀態(tài)數(shù)據(jù)；根據(jù)第一狀態(tài)數(shù)據(jù)從預設模型庫中選擇對應的動態(tài)模型，并辨識動態(tài)模型的模型參數(shù)，以及計算動態(tài)模型的置信度；根據(jù)模型參數(shù)和第二狀態(tài)數(shù)據(jù)，在預設的預測時域內(nèi)建立多目標優(yōu)化函數(shù)，求解多目標優(yōu)化函數(shù)，獲得目標控制序列；根據(jù)目標控制序列調(diào)整開關(guān)電源的控制占空比，并檢測對應的電感電流的過零時刻，根據(jù)過零時刻計算同步整流管的目標導通相位；根據(jù)目標導通相位生成主開關(guān)管的第一驅(qū)動信

重合閘核心判斷邏輯是 “控制開關(guān)與斷路器位置不對應”（開關(guān)在合閘位但斷路器實際斷開），需結(jié)合故障類型、保護動作與設備狀態(tài)綜合判定，瞬時性故障允許重試，永久性故障及特定工況必須禁止。一、重合閘的判斷邏輯與啟動條件二、允許重合閘（重試）的情況三、必須禁止重合閘的情況（閉鎖條件）四、快速判定與操作要點五、總結(jié)重合閘是提高供電可靠性的重要手段，但必須嚴格按 “位置不對應 + 故障類型 + 設備狀態(tài)” 判定：瞬時性故障允許重試，永久性故障及人為操作、保護閉鎖、設備異常等工況必須禁止，避免設備損壞與電網(wǎng)風險。

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，上海艾為電子技術(shù)股份有限公司申請一項名為“一種控制方法、芯片、存儲介質(zhì)及電子設備”的專利，公開號CN121254685A，申請日期為2025年9月。專利摘要顯示，本申請實施例提供了一種控制方法，包括：接收第二設備發(fā)出的芯片控制指令，從所述芯片控制指令的位置地址中獲取位置控制指令和控制使能指令；基于所述位置控制指令和所述控制使能指令，控制所述第一設備同時進入位置控制模式和控制使能模式。本申請實現(xiàn)了提高通訊效率，保證多個芯片的協(xié)同操作，避免不同控制指令之間不同步產(chǎn)生導致預期之外的不穩(wěn)定控制。天眼查資料顯示，上海艾為電子技術(shù)股份有限公司，成立于2008年，位于上海市，是一家以從事軟件和信息技術(shù)服務業(yè)為主的企業(yè)。企業(yè)注冊資本23312.8636萬人民幣。通過天眼查大數(shù)據(jù)分析，

國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，芯瞳半導體技術(shù)（廈門）有限公司申請一項名為“多核芯片的操作方法、設計方法及多核芯片”的專利，公開號CN121351726A，申請日期為2025年12月。專利摘要顯示，本公開涉及半導體設計與制造的技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種多核芯片的操作方法、設計方法及多核芯片。本公開的技術(shù)方案將可接受制造缺陷的電路邏輯分為第一邏輯分組，不可接受制造缺陷的電路邏輯分為第二邏輯分組；通過讀取多核芯片上至少一個計算核心的缺陷狀態(tài)，可以確定出計算核心內(nèi)可接受制造缺陷的第一邏輯分組的可用性；在缺陷狀態(tài)指示第一邏輯分組不可用時，配置計算核心內(nèi)的控制寄存器關(guān)閉第一邏輯分組，同時保持計算核心內(nèi)不可接受制造缺陷的第二邏輯分組處于運行狀態(tài)，不影響計算核心的功能電路邏輯。該技術(shù)方案使多核芯片可接受制造缺陷的電路