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國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，海光信息技術(shù)股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種用于開(kāi)關(guān)電源的控制裝置、開(kāi)關(guān)電源及控制方法”的專利，公開(kāi)號(hào)CN121485467A，申請(qǐng)日期為2025年11月。專利摘要顯示，本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)一種用于開(kāi)關(guān)電源的控制裝置、開(kāi)關(guān)電源及控制方法，涉及開(kāi)關(guān)電源控制技術(shù)領(lǐng)域，能夠在保持信號(hào)穩(wěn)定的情況下，有效降低開(kāi)關(guān)電源的功耗。該控制裝置包括：反饋模塊，配置為根據(jù)所述功率部件的電壓輸出端的所述第二電壓信號(hào)以及所述功率部件中所述電壓輸入端與所述電壓輸出端之間的目標(biāo)電流信號(hào)的交流分量，生成脈沖觸發(fā)信號(hào)；脈沖寬度調(diào)制模塊，與所述反饋模塊耦接，配置為根據(jù)所述脈沖觸發(fā)信號(hào)輸出脈沖信號(hào)，所述脈沖信號(hào)包括依次輸出的第一電平和第二電平，所述第一電平的持續(xù)時(shí)長(zhǎng)為預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)，所述脈沖信號(hào)用于控制所述功率部件中

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，陜西亞成微電子股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“應(yīng)用于智能低側(cè)開(kāi)關(guān)芯片的可選擇升壓電路”的專利，公開(kāi)號(hào)CN121508511A，申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示，本發(fā)明提供一種應(yīng)用于智能低側(cè)開(kāi)關(guān)芯片的可選擇升壓電路，智能低側(cè)開(kāi)關(guān)芯片包括引腳IN、功率管以及分別與引腳IN和功率管連接的電壓變化率控制模塊，可選擇升壓電路包括：可選擇電壓倍增模塊，其具有輸入端和輸出端，輸入端連接至智能低側(cè)開(kāi)關(guān)芯片的引腳IN，輸出端連接至電壓變化率控制模塊；可選擇電壓倍增模塊，用于檢測(cè)引腳IN的輸入電壓值，并基于輸入電壓值進(jìn)行升壓控制，得到目標(biāo)電壓，并將目標(biāo)電壓輸出至功率管，以使功率管的內(nèi)阻小于預(yù)設(shè)閾值，從而顯著降低開(kāi)關(guān)損耗，提高智能低側(cè)開(kāi)關(guān)芯片的效率與可靠性。天眼查資料顯示，陜西亞成微電子

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，吉安伊戈?duì)栯姎庥邢薰救〉靡豁?xiàng)名為“一種高效多輸出開(kāi)關(guān)電源”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223928238U，申請(qǐng)日期為2025年1月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型涉及開(kāi)關(guān)電源技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種高效多輸出開(kāi)關(guān)電源，包括至少兩個(gè)模擬式恒流輸出模塊；高效原邊回路和變壓器T1的原邊繞組電連接，變壓器T1的副邊繞組和副邊濾波模塊電連接，副邊濾波模塊分別與模擬式恒流輸出模塊電連接；微控制器分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，使其接收微控制器的PWM信號(hào)和保護(hù)動(dòng)作信號(hào)；變壓器T1的副邊輔助繞組分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，為模擬式恒流輸出模塊提供降壓偏壓電源；第一、第二檢測(cè)模塊分別電連接于模擬式恒流輸出模塊和微控制器之間以及副邊濾波模塊和微控制器之間，用于信號(hào)反饋；解決了設(shè)多個(gè)輸出的開(kāi)關(guān)電

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，蘇州力生美半導(dǎo)體有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種開(kāi)關(guān)電源副邊導(dǎo)通時(shí)間的檢測(cè)方法和電路”的專利，公開(kāi)號(hào)CN121508325A，申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示，本發(fā)明提供了一種開(kāi)關(guān)電源副邊導(dǎo)通時(shí)間的檢測(cè)方法和電路。該檢測(cè)方法包括檢測(cè)所述開(kāi)關(guān)電源副邊的導(dǎo)通起始時(shí)刻；在所述起始時(shí)刻后延遲第一預(yù)設(shè)時(shí)間，得到延遲起始時(shí)刻；檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源輔助繞組的電壓VS下降至預(yù)設(shè)參考電壓的時(shí)刻，并作為所述開(kāi)關(guān)電源副邊的導(dǎo)通結(jié)束時(shí)刻；將所述延遲起始時(shí)刻和所述導(dǎo)通結(jié)束時(shí)刻之間的時(shí)間間隔作為所述開(kāi)關(guān)電源副邊的導(dǎo)通時(shí)間。本發(fā)明通過(guò)引入延遲起始時(shí)刻的檢測(cè)方式，確保導(dǎo)通時(shí)間的測(cè)量更加準(zhǔn)確和一致。該方法簡(jiǎn)化了檢測(cè)電路設(shè)計(jì)，提高了測(cè)量的穩(wěn)定性和可靠性，有助于提升開(kāi)關(guān)電源恒流控制的精度和系統(tǒng)整體性能，適用于多

實(shí)驗(yàn)室作為電力設(shè)備研發(fā)、檢測(cè)與認(rèn)證的核心場(chǎng)所，對(duì)供電質(zhì)量的要求嚴(yán)苛到“零干擾”——任何微小的局部放電（Partial Discharge, PD）或諧波污染，都可能導(dǎo)致調(diào)試數(shù)據(jù)失真、設(shè)備損壞甚至安全事故。無(wú)局放變頻電源（局放≤5pC）作為一種低干擾、寬范圍、高精度的專用供電設(shè)備，通過(guò)抑制局部放電與諧波污染，成為解決實(shí)驗(yàn)室調(diào)試難題的關(guān)鍵技術(shù)。本文將從核心應(yīng)用場(chǎng)景、技術(shù)優(yōu)勢(shì)、實(shí)際效益及行業(yè)案例四個(gè)維度，系統(tǒng)闡述其在實(shí)驗(yàn)室調(diào)試中的作用。一、核心應(yīng)用場(chǎng)景：覆蓋電力設(shè)備全生命周期調(diào)試需求無(wú)局放變頻電源的應(yīng)用貫穿電力設(shè)備研發(fā)、型式試驗(yàn)、出廠檢測(cè)全流程，具體場(chǎng)景如下：1. 高壓設(shè)備研發(fā)：保障絕緣性能測(cè)試精準(zhǔn)性高壓設(shè)備（如GIS、變壓器、電纜）的絕緣性能是研發(fā)核心指標(biāo)，需通過(guò)局放測(cè)試、耐壓測(cè)試、介損測(cè)試驗(yàn)證

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，眸芯科技（上海）有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“芯片調(diào)測(cè)系統(tǒng)及方法”的專利，公開(kāi)號(hào)CN121210229A，申請(qǐng)日期為2025年9月。專利摘要顯示，本發(fā)明公開(kāi)了芯片調(diào)測(cè)系統(tǒng)及方法，涉及芯片開(kāi)發(fā)技術(shù)領(lǐng)域。所述系統(tǒng)包括待測(cè)芯片端和外設(shè)接口發(fā)送裝置，外設(shè)接口發(fā)送裝置設(shè)置在待測(cè)芯片端外部，與待測(cè)芯片通過(guò)管腳連接線連接，用于向待測(cè)芯片發(fā)送不同類型的低速協(xié)議激勵(lì)信號(hào)；待測(cè)芯片的內(nèi)部嵌入有協(xié)議轉(zhuǎn)換裝置，其被配置為：通過(guò)待測(cè)芯片封裝的管腳，接收外設(shè)接口發(fā)送裝置發(fā)送的低速協(xié)議激勵(lì)信號(hào)，對(duì)該激勵(lì)信號(hào)進(jìn)行解析、轉(zhuǎn)換后得到AMBA總線協(xié)議的激勵(lì)信號(hào)，再通過(guò)AMBA總線發(fā)送至待測(cè)芯片的目標(biāo)地址模塊，以對(duì)芯片的目標(biāo)模塊寄存器進(jìn)行訪問(wèn)。本發(fā)明改進(jìn)了芯片回片階段的測(cè)試和調(diào)試手段，可以對(duì)傳統(tǒng)調(diào)測(cè)方案進(jìn)行補(bǔ)充或替

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，河南森源電氣股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種開(kāi)關(guān)聯(lián)鎖板及高壓開(kāi)關(guān)聯(lián)鎖裝置”的專利，公開(kāi)號(hào)CN121237590A，申請(qǐng)日期為2024年6月。專利摘要顯示，本發(fā)明屬于兩個(gè)或更多開(kāi)關(guān)間的聯(lián)鎖的電開(kāi)關(guān)的聯(lián)鎖機(jī)構(gòu)領(lǐng)域，特別是涉及一種開(kāi)關(guān)聯(lián)鎖板及高壓開(kāi)關(guān)聯(lián)鎖裝置。為了解決現(xiàn)有閉鎖聯(lián)鎖裝置的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，且容易誤操作真空開(kāi)關(guān)的技術(shù)問(wèn)題，開(kāi)關(guān)聯(lián)鎖板包括板本體，板本體具有上、中、下三個(gè)工位，板本體上設(shè)有兩個(gè)避讓孔，板本體的頂部具有止擋限位部；在上工位時(shí)，其中一個(gè)避讓孔用于與接地開(kāi)關(guān)操作孔對(duì)齊；在中工位時(shí)，另一個(gè)避讓孔用于與隔離開(kāi)關(guān)操作孔對(duì)齊；在下工位時(shí)，各避讓孔均用于與相應(yīng)的操作孔錯(cuò)開(kāi)，且止擋限位部用于在斷路器或負(fù)荷開(kāi)關(guān)合閘后與相應(yīng)聯(lián)鎖軸沿上下方向止擋配合；止擋限位部用于在上工位和中工位時(shí)

高壓斷路器進(jìn)行機(jī)械特性試驗(yàn)的原因主要有以下幾點(diǎn)：1、確保性能符合標(biāo)準(zhǔn)機(jī)械特性試驗(yàn)可驗(yàn)證斷路器的分合閘時(shí)間、速度、同期性等參數(shù)是否符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和制造廠規(guī)定。這些參數(shù)直接影響斷路器的開(kāi)斷和關(guān)合能力，只有參數(shù)在范圍內(nèi)，才能保證斷路器在正常和故障情況下可靠動(dòng)作。2、保障電力系統(tǒng)穩(wěn)定性分合閘時(shí)間過(guò)長(zhǎng)或不同期，可能導(dǎo)致故障電流切除不及時(shí)，引發(fā)系統(tǒng)電壓波動(dòng)、設(shè)備損壞甚至停電事故。通過(guò)試驗(yàn)，可及時(shí)發(fā)現(xiàn)并調(diào)整這些問(wèn)題，確保電力系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行。3、評(píng)估機(jī)械健康狀況試驗(yàn)?zāi)軝z測(cè)斷路器的機(jī)械部件磨損、傳動(dòng)機(jī)構(gòu)故障、觸頭彈性等問(wèn)題。例如，觸頭磨損可能導(dǎo)致接觸不良，影響導(dǎo)電性能；傳動(dòng)機(jī)構(gòu)卡滯可能使分合閘速度異常。早期發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題，可避免設(shè)備故障擴(kuò)大。4、預(yù)防安全事故適當(dāng)?shù)姆趾祥l速度能減少電弧燃燒時(shí)間，降低觸頭燒損、爆炸等風(fēng)

一、常規(guī)試驗(yàn)周期一般規(guī)定根據(jù)《電力安全工作規(guī)程》及行業(yè)實(shí)踐，高壓驗(yàn)電器（1kV及以上）的預(yù)防性試驗(yàn)周期通常為每6個(gè)月一次。這一周期適用于大多數(shù)常規(guī)工作環(huán)境，旨在確保驗(yàn)電器在正常使用條件下的可靠性和安全性。特殊環(huán)境調(diào)整高危場(chǎng)合：在化工廠、電力系統(tǒng)高壓區(qū)域等特殊環(huán)境中，驗(yàn)電器可能面臨更嚴(yán)苛的條件（如腐蝕性氣體、高溫高濕等），試驗(yàn)周期可能縮短至每3個(gè)月一次。極端環(huán)境：如沿海高鹽霧地區(qū)或極寒地區(qū)（-30℃以下），驗(yàn)電器需額外進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)或低溫啟動(dòng)測(cè)試，周期可能進(jìn)一步縮短。二、異常情況下的試驗(yàn)要求設(shè)備異常若驗(yàn)電器出現(xiàn)損壞、接觸不良、指示燈異常等現(xiàn)象，必須立即停止使用并進(jìn)行試驗(yàn)或更換，以確保安全。長(zhǎng)期閑置后復(fù)用若驗(yàn)電器長(zhǎng)時(shí)間未使用（如超過(guò)6個(gè)月），重新投入使用前需進(jìn)行一次檢測(cè)，確認(rèn)其性能正常。三、不同標(biāo)