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國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，深圳市微源半導(dǎo)體股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“隔離管控制電路及開關(guān)電源”的專利，公開號(hào)CN121036538A，申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N隔離管控制電路及開關(guān)電源。隔離管控制電路包括第一分壓模塊、第二分壓模塊、比較模塊、開關(guān)模塊和上拉模塊，比較模塊分別與第一分壓模塊、第二分壓模塊和開關(guān)模塊電連接，第一分壓模塊用于與開關(guān)電源中的隔離管的漏極電連接，開關(guān)模塊用于與隔離管的柵極電連接，上拉模塊用于分別與隔離管的柵極和隔離管的源極電連接。本申請(qǐng)?jiān)陂_關(guān)電源關(guān)斷過程中通過動(dòng)態(tài)調(diào)整隔離管的狀態(tài)，可以確保電感殘留能量的安全泄放，避免SWI節(jié)點(diǎn)電壓異常升高的風(fēng)險(xiǎn)，解決了傳統(tǒng)關(guān)斷過程中快速關(guān)斷隔離管導(dǎo)致SWI節(jié)點(diǎn)的電壓急劇升高可能擊穿功率管或隔離管的問題，提高

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，中國聯(lián)合網(wǎng)絡(luò)通信集團(tuán)有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種開關(guān)電源輸出過壓抑制系統(tǒng)及方法”的專利，公開號(hào)CN121441076A，申請(qǐng)日期為2025年12月。專利摘要顯示，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N開關(guān)電源輸出過壓抑制系統(tǒng)及方法，系統(tǒng)包括：開關(guān)電源變換電路、控制器、邏輯運(yùn)算電路以及RC濾波電路；控制器用于獲取開關(guān)電源變換電路的輸出電壓設(shè)定值以及輸出電壓電流采樣值，根據(jù)輸出電壓設(shè)定值，通過RC濾波電路得到過壓保護(hù)參考值；以及，根據(jù)過壓保護(hù)參考值和以及輸出電壓電流采樣值，通過RC濾波電路以及邏輯運(yùn)算電路得到半橋LLC諧振變換器中開關(guān)管的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，驅(qū)動(dòng)信號(hào)用于控制開關(guān)管的工作狀態(tài)以抑制輸出電壓過沖。本申請(qǐng)可以根據(jù)監(jiān)控系統(tǒng)對(duì)開關(guān)電源設(shè)置的不同輸出電壓值，控制器發(fā)出PWM脈寬不同，動(dòng)態(tài)的生成不同的過壓

證券之星消息，根據(jù)天眼查APP數(shù)據(jù)顯示士蘭微（600460）新獲得一項(xiàng)發(fā)明專利授權(quán)，專利名為“峰值電流采樣電路、開關(guān)電源控制器以及開關(guān)電源”，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202411154328.9，授權(quán)日為2026年2月10日。專利摘要：本發(fā)明公開了一種峰值電流采樣電路、開關(guān)電源控制器以及開關(guān)電源。開關(guān)電源采用功率開關(guān)管控制輸入端向輸出端的電能傳輸，從而根據(jù)輸入電壓產(chǎn)生輸出電壓，其中，峰值電流采樣電路包括：電壓采樣模塊，輸入端與功率開關(guān)管的漏極連接，用于根據(jù)功率開關(guān)管的導(dǎo)通和關(guān)斷動(dòng)作同步對(duì)功率開關(guān)管的漏源壓差進(jìn)行采樣，以得到具有正溫度系數(shù)的第一采樣信號(hào)；以及溫度補(bǔ)償模塊，用于對(duì)第一采樣信號(hào)進(jìn)行溫度補(bǔ)償，以得到零溫度系數(shù)的第二采樣信號(hào)，其中第二采樣信號(hào)攜帶有開關(guān)電源的峰值電流信息。本申請(qǐng)無需在開關(guān)電源中

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，海光信息技術(shù)股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種用于開關(guān)電源的控制裝置、開關(guān)電源及控制方法”的專利，公開號(hào)CN121485467A，申請(qǐng)日期為2025年11月。專利摘要顯示，本發(fā)明實(shí)施例公開一種用于開關(guān)電源的控制裝置、開關(guān)電源及控制方法，涉及開關(guān)電源控制技術(shù)領(lǐng)域，能夠在保持信號(hào)穩(wěn)定的情況下，有效降低開關(guān)電源的功耗。該控制裝置包括：反饋模塊，配置為根據(jù)所述功率部件的電壓輸出端的所述第二電壓信號(hào)以及所述功率部件中所述電壓輸入端與所述電壓輸出端之間的目標(biāo)電流信號(hào)的交流分量，生成脈沖觸發(fā)信號(hào)；脈沖寬度調(diào)制模塊，與所述反饋模塊耦接，配置為根據(jù)所述脈沖觸發(fā)信號(hào)輸出脈沖信號(hào)，所述脈沖信號(hào)包括依次輸出的第一電平和第二電平，所述第一電平的持續(xù)時(shí)長為預(yù)設(shè)時(shí)長，所述脈沖信號(hào)用于控制所述功率部件中

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，吉安伊戈?duì)栯姎庥邢薰救〉靡豁?xiàng)名為“一種高效多輸出開關(guān)電源”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223928238U，申請(qǐng)日期為2025年1月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型涉及開關(guān)電源技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種高效多輸出開關(guān)電源，包括至少兩個(gè)模擬式恒流輸出模塊；高效原邊回路和變壓器T1的原邊繞組電連接，變壓器T1的副邊繞組和副邊濾波模塊電連接，副邊濾波模塊分別與模擬式恒流輸出模塊電連接；微控制器分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，使其接收微控制器的PWM信號(hào)和保護(hù)動(dòng)作信號(hào)；變壓器T1的副邊輔助繞組分別與模擬式恒流輸出模塊電連接，為模擬式恒流輸出模塊提供降壓偏壓電源；第一、第二檢測模塊分別電連接于模擬式恒流輸出模塊和微控制器之間以及副邊濾波模塊和微控制器之間，用于信號(hào)反饋；解決了設(shè)多個(gè)輸出的開關(guān)電

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，蘇州力生美半導(dǎo)體有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種開關(guān)電源副邊導(dǎo)通時(shí)間的檢測方法和電路”的專利，公開號(hào)CN121508325A，申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示，本發(fā)明提供了一種開關(guān)電源副邊導(dǎo)通時(shí)間的檢測方法和電路。該檢測方法包括檢測所述開關(guān)電源副邊的導(dǎo)通起始時(shí)刻；在所述起始時(shí)刻后延遲第一預(yù)設(shè)時(shí)間，得到延遲起始時(shí)刻；檢測開關(guān)電源輔助繞組的電壓VS下降至預(yù)設(shè)參考電壓的時(shí)刻，并作為所述開關(guān)電源副邊的導(dǎo)通結(jié)束時(shí)刻；將所述延遲起始時(shí)刻和所述導(dǎo)通結(jié)束時(shí)刻之間的時(shí)間間隔作為所述開關(guān)電源副邊的導(dǎo)通時(shí)間。本發(fā)明通過引入延遲起始時(shí)刻的檢測方式，確保導(dǎo)通時(shí)間的測量更加準(zhǔn)確和一致。該方法簡化了檢測電路設(shè)計(jì)，提高了測量的穩(wěn)定性和可靠性，有助于提升開關(guān)電源恒流控制的精度和系統(tǒng)整體性能，適用于多

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，安測半導(dǎo)體技術(shù)（義烏）有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種電源芯片測試方法及裝置”的專利，公開號(hào)CN121324898A，申請(qǐng)日期為2025年11月。專利摘要顯示，本發(fā)明屬于芯片測試（晶圓測試）領(lǐng)域，為了解決在電源芯片的測試過程中，通常需要人工連線，由于連線較多，導(dǎo)致作業(yè)效率較低，而且經(jīng)常出現(xiàn)連線錯(cuò)誤的問題，本發(fā)明提供了一種電源芯片測試方法及裝置，該裝置包括：連接單元，所述連接單元包括多個(gè)測試針，所述測試針與待測晶圓連接；探針單元，所述探針單元包括多個(gè)探針，通過探針與連接單元連接；測試電路單元，所述測試電路單元與探針單元的探針連接，用于發(fā)出測試信號(hào)；處理單元，用于根據(jù)所述測試電路單元發(fā)出的信號(hào)，對(duì)待測晶圓進(jìn)行電壓測試。本發(fā)明中連接單元直接通過探針單元與測試電路單元連接，不再需要

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，深圳市昌寶機(jī)電設(shè)備有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種開關(guān)電源測試柜”的專利，公開號(hào)CN121364329A，申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示，本發(fā)明公開了一種開關(guān)電源測試柜，涉及開關(guān)電源老化測試技術(shù)領(lǐng)域，包括老化測試柜，老化測試柜上呈直線陣列固定連接有多個(gè)層板，每個(gè)層板上各放置有多個(gè)開關(guān)電源，老化測試柜上設(shè)置有測試組件，測試組件包括多個(gè)擱置槽，多個(gè)擱置槽分別開設(shè)在多個(gè)層板上，每個(gè)層板上對(duì)應(yīng)一個(gè)擱置槽，老化測試柜與多個(gè)層板上共同對(duì)稱開設(shè)有兩個(gè)豎槽；通過測試組件的運(yùn)行，將現(xiàn)有逐個(gè)取放開關(guān)電源的方式轉(zhuǎn)變?yōu)橥ㄟ^托板進(jìn)行一次性放入和取出的批量操作模式，極大地縮短了開關(guān)電源測試準(zhǔn)備和收尾階段所耗費(fèi)的時(shí)間，將多次重復(fù)勞動(dòng)合并為一次操作，顯著提高了測試流程的吞吐率，同時(shí)有效降低了操作

國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，仝瑞半導(dǎo)體科技（上海）有限公司取得一項(xiàng)名為“一種可快速拆裝的芯片量產(chǎn)測試用插座”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223815386U，申請(qǐng)日期為2025年1月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型提出一種可快速拆裝的芯片量產(chǎn)測試用插座，包括測試底座、浮動(dòng)支座、芯片保持座和頂蓋，浮動(dòng)支座底部滑動(dòng)扣合于測試底座頂部的浮動(dòng)凸部，緊貼浮動(dòng)支座的上表面設(shè)有芯片保持座，緊貼所述芯片保持座的頂部設(shè)有頂蓋。本實(shí)用新型通過將頂蓋蓋設(shè)于芯片保持座上且向下按壓，直至頂蓋兩側(cè)所設(shè)扣件底部的扣齒與測試底座兩側(cè)的扣槽相扣合，在按壓過程中，待測芯片的引腳被配合插入引腳插孔支座上所設(shè)的引腳插孔中，從而實(shí)現(xiàn)待測芯片的裝配連接，裝配簡單。天眼查資料顯示，仝瑞半導(dǎo)體科技（上海）有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以從